Автор работы: Пользователь скрыл имя, 13 Апреля 2013 в 18:18, курсовая работа
Показатели технического уровня создаваемой научно-технической продукции в соответствии с ГОСТ Р 15.011-96 (форма Д.1.1). Используемые технологические процессы должны обеспечить изготовление РМП с заданными характеристиками: - рабочая частота: до 6ГГц - рабочий диапазон температур: минус 120…+170оС - материал исполнительного элемента: кремний/никель/золото/алюминий - материал резисторов: нихром / вольфрам / нитинол / поликремний - материал диэлектрика конденсатора: нитрид кремния - напряжение питания системы преобразователя 24В; ток питания 100 мкА.
Техническое задание 3
Введение 6
1 Анализ принципа действия, конструкции и методов изготовления радиочастотного микропереключателя 7
1.1 Анализ принципов действия радиочастотных микропереключателей 7
1.1.1 Электростатические механизмы управления 8
1.1.2 Магнитостатические механизмы управления 8
1.1.3 Пьезоэлектрические механизмы управления 8
1.1.4 Электротермический механизм управления 8
1.2 Параметры переключения 8
1.3 Анализ конструкции радиочастотного микропереключателя 9
1.4 Технологии производства МЭМС 10
1.4.1 Кремниевая объёмная микрообработка 10
1.4.2 Способы остановки процесса травления 12
1.4.3 Кремниевая поверхностная микрообработка 13
1.4.4 LIGA, SIGA и MUMP’s технологии 15
2 Расчет типового радиочастотного микропереключателя 17
2.1 Расчет исполнительного элемента 17
3 Анализ физико-механических характеристик радиочастотного микропереключателя в программном комплексе SolidWorks 19
4 Заключение 22
Список литературы 23
- плазменное изотропное травление,
- реактивно-ионное травление,
- травление с барьерным слоем.
В объемную технологию также включаются методы соединения слоев внутри микросистемы и методы построения барьерного слоя из оксидов.
1.4.1.1 Изотропное и направленное жидкостное травление
Большинство методов жидкостного травления являются изотропными, т. е. они не зависят от кристаллографической ориентации подложки. Однако существуют травильные вещества, для которых важной является ориентация кристаллов полупроводника. Они обладают свойством травить кристаллы с разной ориентацией с разной скоростью. В алмазоподобной и сфалеритовой пространственных решетках плоскости (111) имеют большую плотность упаковки по сравнению с ориентацией (100), поэтому скорость травления в них при применении любых травильных реагентов будет ниже. Избирательность и направленность — две основных характеристики травильных реагентов, применяемых при построении трехмерных структур. Поскольку процесс травления в полярных растворителях основан на явлениях переноса заряда, скорость травления зависит от типа используемых примесей, их концентрации и приложенного электрического поля. При помощи разных примесей можно управлять процессом травления. Процесс травления можно остановить электрохимическим способом, если к вытравливаемому n-р переходу приложить достаточно сильное электрическое напряжение.
Область, в которой процесс травления замедляется или даже прекращается, называется барьерным слоем. Существует несколько способов создания барьерных слоев: селективное травление при помощи примесей, селективное травление при помощи примесей и электрического смещения.
1.4.1.2 Сухое травление
Для построения
подвесных механических структур и
приводов из монокристаллического кремния
был разработан метод сухого плазмохимического
травления. Он включает в себя реактивное
травление монокристаллического кремния
и процесс металлизации. Технология
реактивно-ионного травления
Технология сухого травления может использоваться для формирования сложных геометрических структур. При помощи нее можно реализовывать интегрированные емкостные приводы с высоким характеристическим соотношением, позволяющие возбуждать электростатические силы, приводящие к движению механических микрочастей.
В сухих
методах продуктами реакций являются
летучие вещества, удаляемые через
откачную систему. Сухие плазменные
процессы проводятся в вакуумных
камерах, содержащих ионизированный газ
– плазму. В составе плазмы, кроме
отрицательных и положительных
ионов, электронов и нейтральных
молекул, могут также находиться
свободные радикалы – крайне активные
атомы или молекулы. Радикалы образуются
в плазме из специально вводимых соединений.
В зависимости от материала слоя,
подлежащего травлению, способа
возбуждения и поддержания
Ионы инертных газов, направляемые перпендикулярно подложке, позволяют получать рисунки с практически вертикальными стенками, но селективность такого процесса низка.
При плазмохимическом
травлении разряд возбуждается в
химически активных газах или
парах, ионы и радикалы которых химически
взаимодействуют с
Более широкие
возможности у ионно-
1.4.2Способы остановки процесса травления
При формировании
структур с помощью жидкого
1.4.2.1 Селективное травление при помощи примесей
Мембраны из кремния изготавливаются в основном при помощи тонкого барьерного слоя, сильно легированного бором. Этот слой может быть получен либо при помощи эпитаксиального выращивания, либо сформирован методом диффузии или имплантации бора в слабо легированную подложку. Основными достоинствами метода создания барьерных слоев, сильно легированных бором, являются независимость от ориентации кристаллов, гладкость получаемой поверхности и возможность построения свободных микроструктур с любой геометрией боковых срезов за одну стадию травления.
1.4.2.2 Электрохимический способ остановки процесса травления
При электрохимическом
травлении к кремниевой подложке
(аноду) и к электроду (катоду), находящимися
в травильном растворе, прикладывается
постоянное напряжение. Традиционный
электрохимический метод
1.4.2.3 Селективное
травление при помощи
Импульсное анодноеокисление является методом селективного травления кремния n-типа. В нем используется разница времени, требующегося для растворения анодно-оксидных пленок, сформированных на кремниевых пластинах п- и р-типа при идентичных условиях. Этим методом можно изготавливать микроструктуры из кремния р-типа как слабо, так и умеренно легированного. Следовательно, метод импульсной анодизации открывает возможность построения временных микроструктур в кремнии р-типа.
1.4.2.4 Фотогальванический метод электрохимического травления
Этот
метод подходит для изготовления
большинства микроструктур, которые
могут производиться и
1.4.3 Кремниевая поверхностная микрообработка
Реализованные
по этим технологиям структуры
Существует несколько подходов к изготовлению микросистем по поверхностным технологиям:
- создание защитных слоев при построении механических микроструктур
- совместное применение традиционных методов изготовления микросхем и жидкостного анизотропного травления
- использование плазменного травления для производства ми- . кроструктур на поверхности кремниевой подложки.
При использовании защитного слоя в качестве структурного материала для построения микроэлементов, в основном, применяется поликремний, и только в редких случаях- монокремний. Для создания защитного слоя здесь используется метод химического осаждения из газовой фазы при низких давлениях. Пленки, получаемые таким способом, отличаются отличными механическими свойствами, сравнимыми со свойствами монокристаллического кремния. Если в качестве структурного материала используется поликремний, защитный слой обычно строится из диоксида кремния. Элементы из защитного материала всегда выполняют вспомогательную роль в производстве микроустройства и никогда не входят в его окончательную структуру.
Технология защитного слоя состоит из следующих основных этапов:
- осаждения и формирования защитного слоя из диоксида кремния на подложке
- осаждения и формирования слоя из поликремния
- удаления защитного оксида травлением в плавиковой кислоте (HF). Этот шаг необходим для вытравливания оксида из-под поликремниевой структуры.
Считается, что поликремний выступает в качестве структурного материала, а диоксид кремния - защитного. Это сочетание выбрано потому, что оно подходит почти для всех практических приложений. Однако иногда применяются и другие комбинации материалов.
В идеальных механических микроструктурах отсутствуют остаточные механические напряжения, т. е. нанесенные пленки не имеют значительной остаточной деформации. Если это не выполняется, могут возникнуть серьезные проблемы. Например, балка на двух опорах может изогнуться при наличии в структурном материале даже незначительной остаточной деформации сжатия. Но при соответствующем выборе условий нанесения слоев и оптимизации фазы отжига можно получить пленки из структурных материалов, практически свободные от остаточных механических напряжений.
Поверхностные
технологии требуют подбора
1.4.4 LIGA, SIGA и MUMP’s технологии
LIGA технология
- рентгенолитография, гальваника и
формовка. Сущность процесса заключается
в использовании
С помощью
литографии на подложке формируют структуру
из фоторезиста. Ее используют для получения
шаблона с помощью
SIGA технология
- ультрафиолетовая литография, гальваника
и формовка. Из особенностей этого
процесса можно отметить, что
можно управлять шириной
На окисленной
кремниевой подложке с нанесенным на
нее хромовым покрытием формируется
фоторезистивная маска. После плазменного
травления кремния фоторезист и
хромовое покрытие удаляются. Происходит
термическое окисление кремния.
Впоследствии окисел подвергается анизотропному
травлению. Затем с помощью гальваники
формируется необходимая
MUMPs технология почти на всех этапах формирования топологии использует реактивное ионное травление, что позволяет селективно удалять вещества в вертикальном направлении.
2 Расчет
типового радиочастотного
2.1 Расчет исполнительного элемента
В качестве исполнительных элементов РМП могут применяться как круглого, так и прямоугольного вида мембраны. Теория тонких пластин давно и глубоко разработана, так же, как и варианты их использования в качестве мембран[5].
Подвес исполнительного элемента РМП – инерционной массы (ИМ) представляет собой различные комбинации упругих элементов типа балок (стержней), преобладающее большинство которых подвержено деформациям изгиба (элементы "работают" на изгиб).
Для всех видов мембран при условии, что сила приложена в центре ИМ по оси у нагружение упругих элементов соответствует единичному параллельному смещению одного из концов упругого элемента. Этой же схеме нагружения соответствует и случай приложения силы вдоль оси x.
Если центр масс и геометрический центр пластины ИМ совпадают и сила приложена по оси у в центр масс (ЦМ), то жесткость подвеса, состоящего из четырех балок, при действии силы вдоль оси х, определяется формулой: